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手持式光譜儀在礦區(qū)檢測(cè)的實(shí)際應(yīng)用（上）
發(fā)布時(shí)間：2021-06-02 09:18:50 點(diǎn)擊：4607
X射線熒光光譜儀具有不破壞樣品，準(zhǔn)確度高，分析速度快，能測(cè)定固體、粉末和液體樣品，能適用于常量和微量元素測(cè)定等優(yōu)點(diǎn)，被人們廣泛的重視利用。手持式光譜儀利用X熒光光譜技術(shù)，可在礦區(qū)的勘探檢測(cè)上有很好的應(yīng)用。
測(cè)點(diǎn)密度的選擇
在現(xiàn)場(chǎng)開展原位X熒光光譜儀測(cè)量，由于儀器的探測(cè)器采用中心源幾何結(jié)構(gòu)，被探測(cè)窗所覆蓋的探測(cè)面積有限，僅為18.1 cm^2，因此測(cè)點(diǎn)密度的選擇對(duì)異常體的測(cè)量效果有較大影響，測(cè)點(diǎn)過密雖測(cè)量效果好，但工作量過大，測(cè)點(diǎn)過疏易漏失異常體。在野外實(shí)際應(yīng)用中，應(yīng)針對(duì)異常體規(guī)模大小和巖性的變化正確地選擇測(cè)點(diǎn)的密度。根據(jù)以往工作經(jīng)驗(yàn)，在定的測(cè)點(diǎn)密度前提下，適當(dāng)采用靈活的測(cè)點(diǎn)密度，一般遵循在異常體上方密，在正常巖性上方疏的布置原則。
礦區(qū)勘探檢測(cè)
土壤與基巖X射線熒光光譜測(cè)量效果的對(duì)比
礦區(qū)基巖一般是原巖經(jīng)過不同程度的礦化蝕變作用而形成的巖石。因此基巖X熒光光譜測(cè)量實(shí)質(zhì)上是巖石原生暈的反映。土壤是由巖石風(fēng)化而成的礦物質(zhì)、動(dòng)植物殘?bào)w腐解而產(chǎn)生的有機(jī)物質(zhì)以及水分（土壤溶液）、空氣（土壤孔隙中的空氣）等組成。因此土壤X熒光光譜測(cè)量實(shí)質(zhì)上是次生暈的反映。對(duì)土壤測(cè)量時(shí)盡量選擇基巖上方無(wú)植物根系的B層土壤。
以上，就是本次為大家?guī)淼年P(guān)于手持式光譜儀在礦區(qū)勘探上的應(yīng)用的部分注意點(diǎn)。上一篇：樣品狀態(tài)對(duì)手持式光譜儀的影響 下一篇：手持式光譜儀在礦區(qū)檢測(cè)的實(shí)際應(yīng)用（下）
